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離子遷移測(cè)試系統(tǒng)

離子遷移測(cè)試系統(tǒng)可用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹(shù)脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料、BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件、有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)（有機(jī)EL)、電容、連接器等其他電子元器件及材料、各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估。

離子遷移測(cè)試系統(tǒng)自主開(kāi)發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式，配備國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量?jī)x表，與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，操作更簡(jiǎn)便更安全。標(biāo)配 100V 應(yīng)力電壓（應(yīng)力電壓 / 測(cè)量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規(guī)格可選。高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。「E-Graph」可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗(yàn)效率更高

離子遷移測(cè)試系統(tǒng)廣泛用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹(shù)脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。

該系統(tǒng)能夠充分滿足IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等相關(guān)測(cè)試規(guī)范，通過(guò)將評(píng)估試樣置于高壓、高溫高濕環(huán)境下，通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料絕緣阻抗的變化，記錄相關(guān)數(shù)據(jù)和曲線，幫助使用人員對(duì)材料特性進(jìn)行量化分析。

主要應(yīng)用行業(yè)：通訊設(shè)備、船舶汽車、計(jì)算機(jī)、航空**、半導(dǎo)體，印制電路板等。

MIR絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)主要特點(diǎn)如下。

●可靈活選擇的測(cè)試通道數(shù)，系統(tǒng)可提供32*n（n=1，2...）不同數(shù)量通道。以應(yīng)對(duì)不同批量試樣的測(cè)試。

●系統(tǒng)模塊化結(jié)構(gòu)

●高精度絕緣電阻測(cè)試.

●系統(tǒng)集成試驗(yàn)箱溫濕度測(cè)試（選配）

●Slot測(cè)試參數(shù)獨(dú)立設(shè)置

●測(cè)試電纜檢測(cè)

●絕緣電阻和漏電流校正

●偏置電壓極性可變換（選配）

●靈活的遷移條件設(shè)置

●漏電驗(yàn)證測(cè)試

●測(cè)試過(guò)程多畫(huà)面顯示，易懂易操作。

●高速漏電流監(jiān)測(cè)

●樣品失效保護(hù)

●測(cè)試中可以修改測(cè)試時(shí)間

●測(cè)試中途暫停,中斷/繼續(xù)

●測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)保存

●獨(dú)立的數(shù)據(jù)分析和報(bào)告軟件

●測(cè)試報(bào)告一鍵輸出。